Рентгенофлуоресцентный спектрометр VEGA

Цена: по запросу
Производитель: Xenemetrix страна-производитель - Израиль
Описание
Технические характеристики

Описание

Спектрометр Vega предназначен для элементного анализа массивных, порошковых, спрессованных, сплавленных и жидких образцов.

Преимущества:

  • рентгеновские трубки высокой мощности (до 400 Вт) и детекторы типов SDD и SDD LE;
  • использование оптики со вторичными мишенями (до 8 мишеней) для достижения низких пределов обнаружения;
  • возможность проведения измерений в классической схеме прямого возбуждения;
  • возможность установки до 8 фильтров первичного излучения для работы с прямым возбуждением;
  • технология прямой загрузки пробы сразу на позицию измерения;
  • загрузчик образцов: ручная загрузка или автоматический загрузчик на 10 или 20 позиций;
  • измерения в различных газовых средах: воздух, вакуум, гелий;
  • минимальный расход газов при измерении жидкостей;
  • не требуются дорогостоящие расходные материалы.

Производитель оставляет за собой право вносить корректировки и изменения во внешний вид продукта, изменение его технических характеристик или снятие с производства без предварительного уведомления официального дилера.
По всем возникшим вопросам, касательно интересующего Вас оборудования, параметрам и техническому описанию, а также гарантиям и условиям доставки обращайтесь в отдел продаж РУСПРОМКОНТРОЛЬ по телефону: +7 (343) 312-60-33 или оставьте заявку на нашем сайте. Наши специалисты свяжутся с Вами и помогут подобрать качественное профессиональное оснащение в различных областях неразрушающего контроля и КИПиА: от рентгеновских аппаратов, анализаторов химического состава и ультразвуковых дефектоскопов, до тепловизоров и разрывных машин.

Технические характеристики

Тип стационарный
Материал образцов / применение металлы, материалы металлургического производства, геология, жидкости, нефть/нефтепродукты, жидкое стекло, драгоценные металлы, археология, реставрация и искусствоведение, растения, продукты питания, корма, потребительские товары полупроводники, микроэлектроника, тонкие пленки, аддитивное производство, материаловедение и разработка новых материалов, добыча полезных ископаемых, криминалистика, медицина и фармакология
Метод анализа рентгеновская флуоресценция
Диапазон измерения массовой доли элементов, % 0,0001–100
Метод рентгенофлуоресцентной спектрометрии STXRF
Диапазон измерения элементов (стандартно) Na–Fm
Диапазон измерения элементов (опция) C–Fm
Анод рентгеновской трубки (стандартно) Pd
Анод рентгеновской трубки (опция) Ag, Mo, W, Pd
Мощность рентгеновской трубки, Вт 400
Автоматический сменщик фильтров первичного излучения Да
Автоматический сменщик вторичных мишеней Да
Толщина бериллиевого окна рентгеновской трубки, мкм 75
Коллиматоры первичного пучка (диаметр), мм Нет
Количество образцов для одновременной загрузки 10–20
Вращение образца Опция
Встроенная видеокамера для обзора области измерения Опция
Программное обеспечение для бесстандартного анализа методом фундаментальных параметров (опция) Да
Размеры (Д × Ш × В), мм Н/д
Вес, кг 110