Рентгенофлуоресцентный спектрометр с волновой и энергетической дисперсией Zetium

Рентгенофлуоресцентный спектрометр Zetium с дисперсией по длине волны и энергетической дисперсией применяется для высокоточного и быстрого анализа химического состава материалов, научных исследований, анализа сырья и конечной продукции: металлов, сплавов, спрессованных и сплавленных таблеток, стекол, пластика, концентратов, пленок, гранул, свободных порошков и жидкостей. Диапазон определяемых элементов от Be до U, пределы обнаружения элементов на уровне от долей ppm до 100 %.

Прибор разработан с учетом требований проведения круглосуточного экспресс-контроля в условиях нагруженного и запыленного производства: система предварительного вакуумирования пробы, коллектор сбора пыли и оптимальное расположение трубки и оптических модулей в измерительной камере, минимальный объем камеры.

Рентгенофлуоресцентный спектрометр Zetium находит применение в таких отраслях как:

• металлургическая и горнодобывающая промышленность;
• строительных областях;
• нефтехимических и полимерных производствах;
• фармацевтической сфере;
• производстве керамики и стекла;
• проведение картирования и микроанализа.

Особенности прибора:

• Гониометр. Укомплектован высокоточным гониометром с системой прямого оптического позиционирования (DOPS2 — воспроизводимость установки угла гониометра 0,0001^о), который обеспечивает точность установки угла сопоставимую с фиксированными каналами.
• Кристаллы-монохроматоры. Кристаллы устанавливаются на «мельницу» кристаллов, в том числе изогнутые, многослойные, синтетические кристаллы. Классические кристаллы: LiF200, LiF 220, LiF 420, Ge111 (плоский/изогнутый), PE002 (плоский/изогнутый), InSb111 (плоский/изогнутый), TIAP100 (с покрытием); специализированные кристаллы: PX1, PX10, PX8, PX5, PX4a, PX7, PX6 и др. Zetium может комплектоваться 1 или 2 фиксированными HiPer-каналами, повышенной по чувствительности к легким элементам: B, C, N, O, F, Na, Mg, Al. Таким образом общее количество измерительных кристаллов может достигать 10 шт.
• Рентгеновская трубка. Zetium может быть укомплектован рентгеновскими трубками различной мощности 1.0, 2.4, 3.0 и 4.0 кВт. Тонкое упрочненное бериллиевое окно 50 и 75 мкм и близкое расположение окна трубки к поверхности пробы (7.5 мм) обеспечивают максимальную чувствительность определения легких элементов. Покрытие трубки CHI-BLUE обеспечивает полную герметичность, устойчивость к лучам, агрессивным средам, и, соответственно, еще более долгую службу трубки.

Конфигурации:

• Zetium-Ultimate Edition — максимальная по возможностям конфигурация, прибор исследовательского класса,
• Zetium-Metals — содержит индустриальный модуль NiFeCo для анализа металлов и сплавов,
• Zetium-Cement — содержит индустриальный модуль CEMOXI для анализа цемента и клинкера,
• Zetium-Minerals — содержит индустриальный модуль WROXI для анализа минералов, горных пород, руд, шлаков, огнеупоров, песка и других материалов, содержащих оксиды,
• Zetium-Polymers — содержит индустриальный модуль ADPOL и TOXEL для анализа добавочных и вредных элементов при производстве полимеров,
• Zetium-Petro — содержит индустриальный модуль Oil-Trace для анализа нефти и нефтепродуктов.

В состав всех индустриальных модулей входят стандартные образцы, интегрированная программа, контрольные пробы (мониторы), сертификат на стандарты, CD-диск с описанием, прочный кейс для хранения и переноса.

Программное обеспечение

• Мощный стандартный программный модуль SuperQ для количественного анализа имеет максимально удобный, доступный и функциональный набор программ для управления спектрометром, построения калибровок и обработки результатов анализа. Возможно использование всех видов коррекций калибровок: классической эмпирический Claisse-Quentin без учета α-коэффициентов, Rasberry-Heinrich с расчетом α-коэффициентов, De Jongh’s с расчетом теоретических α-коэффициентов, метод Lachance-Traill фундаментальных параметров (FP), учитывающий всю информацию о спектрометре и образце (плотность, размеры, вид материала, способ приготовления и т.д.).
• Модуль Onmian для количественного безэталонного анализа, работающий по продвинутому методу фундаментальных параметров, имеет широчайшие возможности для исследований образцов абсолютно неизвестных материалов, как твердых, так и жидких, аморфных и порошков. Высочайшая стабильность работы и чувствительность по всем элементам обеспечивают низкие погрешности анализа и отменную воспроизводимость результатов. Достигается погрешность измерений менее 5-10 % отн.
• Модуль SPC для экспрессной статистической обработки данных, контроля показателей качества.
• Модуль PRO-TRACE позволяет максимально приблизить нижние пределы определения элементов к статистическим пределам обнаружения.
• Модуль послойного анализа Stratos для быстрого, простого неразрушающего анализа покрытий, поверхностных слоев или многослойных структур.