Настольный спектрометр для измерения толщины покрытий M1 MISTRAL
Цена: по запросуОписание
Настольный спектрометр для измерения толщины металлических покрытий M1 MISTRAL
Настольный спектрометр M1 MISTRAL находит широкое применение в различных областях, одной из которых является анализ толщины покрытия металлов и многослойных систем. Покрытия могут быть нанесены на материал гальваническими (химические, электрохимические) так и вакуумными методами (напыление, комбинированные методы).
Спектрометр производит измерение толщины:
- покрытий никеля, хрома, цинка, кадмия, сплавов олова; свинца, серебра и многих других на самых различных основах (например, сталь или сплавы меди, титана и пр.)
- покрытий, нанесенных на неметаллические материалы
- покрытий из драгоценных металлов, например, серебра, золота, родия, палладия и других
- различных многослойных покрытий, до 12 слоев (!).
Основные преимущества M1 MISTRAL:
- внесен в государственный реестр средств измерений как спектрометр для измерения толщины покрытия (толщиномер покрытий);
- широкий диапазон измерения толщины покрытия;
- прецизионный метод микро РФА обеспечивает низкую погрешность измерения;
- гибкие конфигурации, позволяющие подобрать оптимальное решение под требуемую задачу;
- измерение габаритных образцов размером до 200 x 175 x 80 мм;
- автоматическое измерение по поверхности образца в различных точках, измерение неровных поверхностей;
- контроль качества гальванических покрытий.
Обратите внимание
Производитель оставляет за собой право вносить корректировки и изменения во внешний вид продукта, изменение его технических характеристик или снятие с производства без предварительного уведомления официального дилера.
По всем возникшим вопросам, касательно интересующего Вас оборудования, параметрам и техническому описанию, а также гарантиям и условиям доставки обращайтесь в отдел продаж РУСПРОМКОНТРОЛЬ по телефону: +7 (343) 287-27-84 или оставьте заявку на нашем сайте. Наши специалисты свяжутся с Вами и помогут подобрать качественное профессиональное оснащение в различных областях неразрушающего контроля и КИПиА: от рентгеновских аппаратов, анализаторов химического состава и ультразвуковых дефектоскопов, до тепловизоров и разрывных машин.
Технические характеристики
Тип прибора | стационарный |
Тип образцов | драгоценные металлы, реставрация, искусствоведение, археология, полупроводники, микроэлектроника, тонкие пленки |
Метод анализа | микрорентгеновская флуоресценция |
Применение | области размером от 100 мкм, печатные платы, измерение толщины покрыти |
Параметр | Стандартная конфигурация | Расширенная конфигурация |
Возбуждение | Микрофокус, окно - стекло, мишень W | Микрофокус, окно - Be, мишень по запросу заказчика |
Высокое | 40 кВ, 40 Вт | 50 кВ, 50 Вт |
Детектор | Проп. счетчик, активная площадь 1100 мм² | Пельте охлаждаемый XFlash® SDD детектор, 30 мм² активная площадь
< 160 эВ для Mn-Ka |
Диаметр пятна | 0.3 или 0.5 мм – коллиматор (завод. установки) | 0.13 или 0.7 мм коллиматор-чейнджер |
Наблюдение | Цветная CCTV камера образца высокого разрешения, увеличения 20 x и 40 x | Цветная CCTV камера высокого разрешения, увеличения 20 x и 40 x |
Столик образца | Ручное или механизированное по Z управление | (200 x 170 х 70 мм), автофокус |
Количественный анализ | Эталонные методы (эмпирич.)
Метод фундаментальн. парам. для безэталонного анализа |
Эталонные методы (эмпирич.)
Метод фундаментальн. парам. для безэталонного анализа и для анализа покрытий (слоев) |
Эл. питание | 110 или 230 В, 50/60 Гц, 100 Вт | 110 или 230 В, 50/60 Гц, 120 Вт |
Размеры | 450 x 550 x 420 мм | 550 x 700 x 430 мм |
Вес | 46 кг |