Цена Настольный спектрометр для измерения толщины покрытий M1 MISTRAL

Настольный спектрометр для измерения толщины покрытий M1 MISTRAL

Цена: по запросу
Производитель: Bruker страна-производитель - Германия
Описание
Технические характеристики

Описание

Настольный спектрометр для измерения толщины металлических покрытий M1 MISTRAL

Настольный спектрометр M1 MISTRAL находит широкое применение в различных областях, одной из которых является анализ толщины покрытия металлов и многослойных систем. Покрытия могут быть нанесены на материал гальваническими (химические, электрохимические) так и вакуумными методами (напыление, комбинированные методы).

Спектрометр производит измерение толщины:

  • покрытий никеля, хрома, цинка, кадмия, сплавов олова; свинца, серебра и многих других на самых различных основах (например, сталь или сплавы меди, титана и пр.)
  • покрытий, нанесенных на неметаллические материалы
  • покрытий из драгоценных металлов, например, серебра, золота, родия, палладия и других
  • различных многослойных покрытий, до 12 слоев (!).

Основные преимущества M1 MISTRAL:

  • внесен в государственный реестр средств измерений как спектрометр для измерения толщины покрытия (толщиномер покрытий);
  • широкий диапазон измерения толщины покрытия;
  • прецизионный метод микро РФА обеспечивает низкую погрешность измерения;
  • гибкие конфигурации, позволяющие подобрать оптимальное решение под требуемую задачу;
  • измерение габаритных образцов размером до 200 x 175 x 80 мм;
  • автоматическое измерение по поверхности образца в различных точках, измерение неровных поверхностей;
  • контроль качества гальванических покрытий.

Обратите внимание

Производитель оставляет за собой право вносить корректировки и изменения во внешний вид продукта, изменение его технических характеристик или снятие с производства без предварительного уведомления официального дилера.
По всем возникшим вопросам, касательно интересующего Вас оборудования, параметрам и техническому описанию, а также гарантиям и условиям доставки обращайтесь в отдел продаж РУСПРОМКОНТРОЛЬ по телефону: +7 (343) 287-27-84 или оставьте заявку на нашем сайте. Наши специалисты свяжутся с Вами и помогут подобрать качественное профессиональное оснащение в различных областях неразрушающего контроля и КИПиА: от рентгеновских аппаратов, анализаторов химического состава и ультразвуковых дефектоскопов, до тепловизоров и разрывных машин.

 

 

Технические характеристики

Тип прибора стационарный
Тип образцов драгоценные металлы, реставрация, искусствоведение, археология, полупроводники, микроэлектроника, тонкие пленки
Метод анализа микрорентгеновская флуоресценция
Применение области размером от 100 мкм, печатные платы, измерение толщины покрыти

 

Параметр Стандартная конфигурация Расширенная конфигурация
Возбуждение Микрофокус, окно - стекло, мишень W Микрофокус, окно - Be, мишень по запросу заказчика
Высокое 40 кВ, 40 Вт 50 кВ, 50 Вт
Детектор Проп. счетчик, активная площадь 1100 мм² Пельте охлаждаемый XFlash® SDD детектор, 30 мм² активная площадь

< 160 эВ для Mn-Ka

Диаметр пятна 0.3 или 0.5 мм – коллиматор (завод. установки) 0.13 или 0.7 мм коллиматор-чейнджер
Наблюдение Цветная CCTV камера образца высокого разрешения, увеличения 20 x и 40 x Цветная CCTV камера высокого разрешения, увеличения 20 x и 40 x
Столик образца Ручное или механизированное по Z управление (200 x 170 х 70 мм), автофокус
Количественный анализ Эталонные методы (эмпирич.)

Метод фундаментальн. парам. для безэталонного анализа

Эталонные методы (эмпирич.)

Метод фундаментальн. парам. для безэталонного анализа и для анализа покрытий (слоев)

Эл. питание 110 или 230 В, 50/60 Гц, 100 Вт 110 или 230 В, 50/60 Гц, 120 Вт
Размеры 450 x 550 x 420 мм 550 x 700 x 430 мм
Вес 46 кг